传统缺陷检测方法为人工目视检测法，目前在手机、平板显示、太阳能、锂电池等诸多行业，仍然有大量的产业工人从事这项工作。这种人工视觉检测方法需要在强光照明条件下进行，半导体检测设备，不仅对检测人员的眼睛伤害很大，南岸半导体检测，且存在主观性强和人眼空间、时间分辨率有限、检测不确定性大、易产生歧义、效率低下等缺点，半导体检测多少钱，已很难满足现代工业高速、高分辨率的检测要求。

　　随着电子技术、图像传感技术和计算机技术的快速发展，利用基于光学图像传感的表面缺陷自动光学(视觉)检测技术取代人工目视检测表面缺陷，已逐渐成为表面缺陷检测的重要手段，因为这种方法具有自动化、非接触、速度快、精度高、稳定性高等优点。

线阵相机是逐行扫描方式取像，面阵相机的优点是图像的还原性较好，打光角度容易调整，还容易得到较清晰的图像，因而市面上的AOI自动光学检测仪绝大多数厂商使用这类相机。线阵相机的图像还原性较差，打光的角度难以调整，是目前误判率高的AOI自动光学检测仪，采用这类相机的AOI自动光学检测仪的唯①优点是检测的速度相对快一点，但检测小板时它的检测速度又要相对而言慢一些，因此，对相机的选择应该尽量选择面阵相机。

AOI系统组成

目前在产业界用得多的AOI系统是由相机、镜头、光源、计算机等通用器件集成的简单光学成像与处理系统。如图1所示，在光源照明下利用相机直接成像，然后由计算机处理实现检测。这种简单系统的优点是成本低、集成容易、技术门槛相对不高，在制造过程中能够代替人工检测，满足多数场合的要求。

但对于大幅面或复杂结构物体的视觉检测，由于受到视场和分辨率（或精度）的相互制约，半导体检测报价，或生产节拍对检测速度有特殊的要求，单相机组成的AOI系统有时难以胜任，因此可能需要有多个基本单元集成在一起，协同工作，共同完成高难度检测任务。即采取一种多传感器成像、高速分布式处理的AOI系统集成架构。

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